Które z diod, triod i rurek polowych powodują trwałe uszkodzenia po przebiciu?

Home Wiadomości Branżowe Które z diod, triod i rurek polowych powodują trwałe uszkodzenia po przebiciu?

2022-03-17 379

Która dioda, trioda czy tranzystor FET spowoduje trwałe uszkodzenie po przebiciu?

Awarię złącza pn można podzielić na awarię lawinową, awarię tunelową i awarię termoelektryczną.

?Pierwsze dwa na ogół nie są destrukcyjne. Jeśli napięcie wsteczne natychmiast się zmniejszy, można przywrócić działanie złącza pn. Jeśli napięcie nie zostanie natychmiast obniżone, złącze pn zostanie zniszczone. Kiedy do złącza pn zostanie przyłożone napięcie wsteczne, a warunki odprowadzania ciepła nie będą dobre, temperatura złącza wzrośnie, a prąd wsteczny będzie dalej rósł. Cykl ten będzie się powtarzał, aż w końcu złącze pn ulegnie uszkodzeniu. Przebicie spowodowane niestabilnością termiczną nazywane jest przebiciem termoelektrycznym i ma charakter trwale niszczący. Rozpad złącza pn jest ważną właściwością elektryczną złącza pn. Napięcie przebicia ogranicza napięcie robocze złącza pn, dlatego urządzenia półprzewodnikowe mają pewne wymagania dotyczące napięcia przebicia. Jednakże wiele urządzeń, takich jak dioda Zenera, dioda lawinowa i dioda tunelowa, można wyprodukować wykorzystując zjawisko przebicia.

Istnieją dwa mechanizmy fizyczne uszkodzenia złącza PN z polaryzacją zwrotną: awaria Zenera i awaria lawinowa. Przebicie Zenera nastąpi w silnie domieszkowanym złączu PN z powodu mechanizmu tunelowego. W silnie domieszkowanym złączu PN pasmo przewodnictwa i pasmo walencyjne po obu stronach są bardzo blisko siebie w warunkach odwrotnego polaryzacji, tak że elektrony mogą tunelować bezpośrednio z obszaru P do obszaru N.

Tel firmy: +86-0755-83044319
Faks/faks:+86-0755-83975897
E-mail: 1615456225@qq.com
QQ: 3518641314 Menedżer Li
QQ: 332496225 Menedżer Qiu
Adres: pokój 809, blok C, budynek Zhantao Technology, nr 1079 Minzhi Avenue, Longhua New District, Shenzhen

Zastosowanie diody

Jak ocenić jakość płyty napędowej IGBT?